并口

Windows界面可在WIN98，WIN2000，WIN XP 等系統(tǒng)下工作

雙CPU工作，速度*快，效率*高。

功能測試40×2通道

VI曲線測試40×2通道

雙測試夾VI曲線測試

網(wǎng)絡(luò)提取 程控加電

EPROM/RAM在線讀取

模擬器件 VI曲線測試

總線隔離信號

中文維修筆記

功能測試軟件設(shè)上拉電阻——集電*開路門的測試

功能測試外供電源——被測電路板可測試

功能測試具有三態(tài)識別能力——可測三態(tài)器件和IC負載能力下降故障

V/I測試正負掃描電壓——同時檢查正/反向V/I曲線

V/I測試六個掃描頻率——V/I曲線測試

V/I測試三種測試電壓幅度——器件的V/I測試

集成電路在線功能測試

采用后驅(qū)動隔離，可在線判定IC邏輯功能是否正確，可測74系列、4000/45000邏輯IC、75系列接口IC及多種存儲器等集成電路。 

1.直接顯示測試結(jié)果，確定可疑IC

2.顯示測試過程，測試激勵。預(yù)期和實際響應(yīng)，幫助分析故障原因

3.查找*標記型號IC或同功能不同型號的IC。

集成電路在線狀態(tài)測試通過好壞板上相應(yīng)IC的狀態(tài)進行比較，找出有故障的IC。

1.狀態(tài)學(xué)習(xí)：在線學(xué)習(xí)*故障IC的引腳關(guān)系，互連狀態(tài)和測試的激勵與響應(yīng)，并存入數(shù)據(jù)庫中

2.狀態(tài)比較：同故障板上相應(yīng)IC在線進行狀態(tài)比較，根據(jù)兩者差異判定IC好壞

3.狀態(tài)顯示：顯示存入電腦庫中的各IC的狀態(tài)資料。

集成電路離線功能測試

離線測試IC功能好壞，自動識別未知型號的芯片

V/I曲線測試

通過好壞板上相應(yīng)節(jié)點的動態(tài)阻抗圈的異同判定故障節(jié)點及故障IC

1.曲線學(xué)習(xí)：在線學(xué)習(xí)*故障板上節(jié)點的動態(tài)阻抗曲線（V/I曲線），并存入數(shù)據(jù)庫中

2.曲線比較：同故障板上相應(yīng)節(jié)點的動態(tài)阻抗曲進行比較，根據(jù)差異大小及維修經(jīng)驗判定與此節(jié)點相關(guān)的IC是否損壞

3.曲線顯示：顯示已存入電腦庫中電路板上節(jié)點的動態(tài)阻抗圖資料集成電路分析測試網(wǎng)絡(luò)提取測試使用戶方便的測試出元器件之間的連接關(guān)系，；輔助判斷芯片的好壞。實現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)提取采用了四種模式：

1.探棒對探捧（“棒”—“棒”模式）

2.探捧對測試夾（“棒”—“夾”模式）

3.測試夾對探捧（“夾”—“棒”模式）

4.測試夾對測試夾（“夾”—“夾”模式）

開發(fā)編譯

1.TVED允許兩種建立測試圖形和方法；

a在TVED圖形界面上直接建立；

b.讀入DCL語言的編譯結(jié)果；

2.編輯測試圖形 利用TVED提供的波形編輯功能，參考取回的響應(yīng)，不斷對測試圖形加以調(diào)整、修改；

3.四種測試方式；